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CECC实验室

中国电子元器件中心实验室,简称CECC实验室(CECCLab)IC测试专家
2014-12-26 15:43:23
概述:简称全功能测试,依据原厂规格书、应用笔记或客户应用现场,对器件的全部功能进行测试,包括直流特性...
2014-12-26 15:41:16
IC检测芯片检测芯片测试集成电路测试IC分析IC筛选IC真伪判断IC真假判定电子元器件测试...
2014-10-15 9:37:07
概述:简称全功能测试,依据原厂规格书、应用笔记或客户应用现场,对器件的全部功能进行测试,包括直流特性...
2014-10-15 9:36:10
概述:是一种动态测试方法,又称为主要功能检测或总体功能检测。指在特定工作条件(即器件正常使用环境,通常...
2014-10-15 9:35:43
概述:使用专业IC测试机测量分析器件的直流特性参数,又称静态参数测试法。测试的内容:A、随机抽样1只...
2014-10-15 9:35:08
概述:通过外观标示检测、化学解剖、内部晶粒显微观察分析、器件PIN脚一致性检测等多种方式,来检验鉴定器件...
2014-10-15 9:34:39
现场可编程门阵列,它是在PAL、GAL、CPLD等可编程器件的基础上进一步发展的产物。它是作为专用集成电路(AS...
2014-7-17 9:59:19
概述:使用专业IC测试机测量分析器件的直流特性参数,又称静态参数测试法。测试的内容:A、随机抽样1只...
2014-7-17 9:58:22
概述:是一种动态测试方法,又称为主要功能检测或总体功能检测。指在特定工作条件(即器件正常使用环境,通常...
2014-5-5 9:21:52
概述:是一种动态测试方法,又称为主要功能检测或总体功能检测。指在特定工作条件(即器件正常使用环境,通常...
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