您好,欢迎光临中国电子应用网![登录] [免费注册] 返回首页 | | 网站地图 | 反馈 | 收藏
在应用中实践
在实践中成长
  • 应用
  • 专题
  • 产品
  • 厂商
  • 新闻
  • 展会
  • 活动
  • 论坛
  • 博客
  • 招聘
当前位置:中国电子应用网 > 新闻中心 > 正文

NI发布《自动化测试趋势展望2013》

2013年04月08日11:28:15 本网站 我要评论(2)字号:T | T | T

 

·         自动化测试趋势展望2013介绍了最新的商业策略、架构、计算、软件和I/O,它们影响着当前和未来以电子产品为基础行业的发展。

·         NI凭借其在自动化测试领域的数十年经验,在商业关系、内部专业知识和第三方研究的基础上进行了自动化测试趋势预测。

 

美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)于近日发布《自动化测试趋势展望2013》,分享了公司对最新测试测量技术和方法的研究发现。 本报告探究了受发展趋势影响的各个行业,包括航空航天和国防、汽车、消费电子产品、半导体、电信以及交通。工程师和管理人员可以根据这份报告,采取最新策略和最佳方式来对测试公司进行优化。

 

《自动化测试趋势展望2013》中包含以下几个趋势:

测试中的经济学: 新的投资模式迫使很多部门重新衡量成功的方式。

海量模拟数据: 工业领先的公司利用IT基础设施和分析工具来更快速地根据测试数据做出决策。

以软件为中心构建的生态系统:开放、以软件为中心的生态系统将对自动化测试系统的价值产生巨大影响。

测试软件质量:工程师采用最佳的软件开发方法来确保复杂测试系统的可靠性。

摩尔定律同样适用于RF领域:新兴技术和仪器平台推动RF测试设备性能的提升和成本的降低。

 

《自动化测试趋势展望》的内容源自于学术界和工业界的研究、用户论坛与调查、商业智能化和用户顾问委员会的反馈意见。该报告以数据为基础,详细介绍了下一代技术趋势,以此应对测试测量领域的商业和技术挑战。

 

请访问www.ni.com/ato/zhs/,阅读《自动化测试趋势展望2013》的详细信息。

 

关于NI

从1976年开始,美国国家仪器(www.ni.com)就为工程师和科学家提供各种工具来加速生产、创新和探索。NI的图形化系统设计方法为工程界提供了一个将软硬件结合在一起的平台,有助于加速测量和控制系统的开发过程。公司的长期愿景和通过技术提高社会发展水平的理念为客户、员工、供应商和股东的成功提供支持。

 

网友评论:已有2条评论 点击查看
登录 (请登录发言,并遵守相关规定)
如果您对新闻频道有任何意见或建议,请到交流平台反馈。【反馈意见】
关于我们 | 联系我们 | 本站动态 | 广告服务 | 帮助中心 | 欢迎投稿 | 友情链接 | 法律声明
Copyright (c) 2008-2013 01ea.com.All rights reserved.
电子应用网 京ICP备12009123号 京公网安备110105003345号